|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Деятельность
-
Доклады на конференциях
-
- 2014 Experimental and theoretical study of the dislocation contrast in silicon by using laboratory X-ray sources
- Авторы: Alexey Voloshin, Denis Zolotov, Victor Asadchikov, Ilya Besedin, Alexey Buzmakov, Felix Chukhovskii, Yuri Iunin
- 12th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging XTOP-2014, Villard-de-Lans, France, Франция, 2014
-