–
Патенты
-
- 1988 Способ определения состояния поверхности полупроводников и диэлектриков
- Авторы: Беспалов В.А., Киселев В.Ф., Левшин Л.В., Плотников Г.С., Салецкий А.М.
- #1400260, 1 февраля
-
- 1985 Способ определения состояния поверхности полупроводников и диэлектриков
- Авторы: Беспалов В.А., Дрозд В.Е., Киселев В.Ф., Левшин Л.В., Плотников Г.С., Салецкий А.М.
- #1194217, 22 июля
-
- 1985 Способ определения локальных дефектов поверхности
- Авторы: Беспалов В.А., Киселев В.Ф., Плотников Г.С., Салецкий А.М.
- #1182354, 1 июня
-
- 1980 Оптический элемент памяти
- Авторы: Козлов С.Н., Плотников Г.С.
- #865017, 17 апреля