|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Деятельность
стиль:
обычный |
ГОСТ |
plain |
abbrv |
acm |
alpha |
amsalpha |
amsplain |
apalike |
ieeetr |
siam
-
Доклады на конференциях
-
- 2012 In situ near-field and far-field investigations of soft X-ray lasers beam properties by submicron-resolution LiF X-ray detector
- Авторы: Pikuz T., Faenov A., Fukuda Y., Tanaka M., Ishino M., Hasegawa N., Nishikino M., Ohashi H., Yabashi M., Tono K., Senba Y., Togashi T., Ishikawa T., Mitrofanov A., Vinogradov A., Astapov A., Klushin G.D., Pikuz Jr S.A., Nagorskiy N.M., Magnitskiy S.A., Pirozhkov A.S., Esirkepov T.Zh, Koga J.K., Nakamura T., Bulanov S., Hayashi Y., Kotaki H., Kato Y., Kawachi М., Kando M.
- Conference on High Intensity Lasers and attosecond science in Israel (CHILI2012). Tel-Aviv, December 3-5, 2012 (Poster), 2012
-