ИСТИНА

Кожевников И.В.

Соавторы: Асадчиков В.Е., Волков Ю.О., Рощин Б.С., Tikhonov A.M., Каневский В.М., Якимчук И.В., Dembo K.A., Filatova E.O., Frolov D.A., Politov V.Y., Yakimchuk I.V., Ангелуц А.А., Андреев А.В. показать полностью..., Буташин А.В., Васильев А.Б., Волков В.В., Дембо К.А., Денисов А.В., Дерябин А.Н., Евдокимов М.Г., Занавескин М.Л., Коновко А.А., Кривоносов Ю.С., Муслимов А.Э., Муслимов А.Э., Новоселова Е.Г., Политов В.Ю., Прудников И.Р., Рябов А.Ю., Сапожников Д.А., Семенов В.Б., Смирнов И.С., Тихонов Е.О., Усенов И.Е., Филатова Е.О., Фролов Д.А., Шкуринов А.П.

7 статей, 2 доклада на конференциях, 2 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 16, Scopus: 18

IstinaResearcherID (IRID): 7498480

Деятельность стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam

• Статьи в журналах

  • 
    • 2013 Ellipsoidal concentrators for laboratory X-ray sources: Analytical approach for optimization
    • Yakimchuk I.V., Kozhevnikov I.V., Politov V.Yu, Asadchikov V.E.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 58, № 2, с. 355-364 DOI
  • 
    • 2013 Model approach to solving the inverse problem of X-ray reflectometry and its application to the study of the internal structure of hafnium oxide films
    • Volkov Yu O., Kozhevnikov I.V., Roshchin B.S., Filatova E.O., Asadchikov V.E.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 58, № 1, с. 160-167 DOI
  • • 2013 Модельный подход к решению обратной задачи рентгеновской рефлектометрии и его применение для исследования внутренней структуры пленок оксида гафния
    • Волков Ю.О., Кожевников И.В., Рощин Б.С., Филатова Е.О., Асадчиков В.Е.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 58, № 1, с. 146-154
  • • 2013 Эллипсоидальные концентраторы для лабораторных рентгеновских источников: аналитический подход к оптимизации
    • Якимчук И.В., Кожевников И.В., Политов В.Ю., Асадчиков В.Е.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), № 58, с. 337-347
  • • 2012 Анализ наношероховатости поверхностей методами рентгеновского рассеяния и атомно-силовой микроскопии
    • Асадчиков В.Е., Кожевников И.В., Рощин Б.С., Волков Ю.О., Муслимов А.Э., Каневский В.М., Занавескин М.Л.
    • в журнале Мир измерений, издательство Стандарты и качество (М.), том 7, № 137, с. 11-17
  • 
    • 2011 Condensation of silica nanoparticles on a phospholipid membrane
    • Asadchikov V.E., Volkov V.V., Volkov Yu O., Dembo K.A., Kozhevnikov I.V., Roshchin B.S., Frolov D.A., Tikhonov A.M.
    • в журнале JETP Letters, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 94, № 7, с. 585-587 DOI
  • • 2011 Конденсация наночастиц кремнезема на фосфолипидной мембране
    • Асадчиков В.Е., Волков В.В., Волков Ю.О., Дембо К.А., Кожевников И.В., Рощин Б.С., Фролов Д.А., Тихонов А.М.
    • в журнале Письма в "Журнал экспериментальной и теоретической физики", том 94, с. 625-628

• Доклады на конференциях

  • • 2014 Laboratory GISAXS for surface roughness control of crystalline and amorphous superpolished parts
    • Авторы: Asadchikov V.E., Kozhevnikov I.V., Roshchin B.S., Volkov Yu O.
    • Meeting "Sapphire ultraoptics for synchrotron radiation". Helmholtz-Russia., Moscow, Россия, 2014
  • • 2009 Получение, исследование и испытание дифракционных решеток металлических нанопроводов на структурированной поверхности монокристаллического лейкосапфира (Устный)
    • Авторы: Асадчиков В.Е., Буташин А.В., Васильев А.Б., Волков Ю.О., Денисов А.В., Дерябин А.Н., Каневский В.М., Кожевников И.В., Кривоносов Ю.С., Муслимов А.Э., Рощин Б.С., Семенов В.Б., Тихонов Е.О., Якимчук И.В., Андреев А.В., Ангелуц А.А., Коновко А.А., Прудников И.Р., Сапожников Д.А., Шкуринов А.П., Усенов И.Е., Евдокимов М.Г., Рябов А.Ю., Новоселова Е.Г., Смирнов И.С.
    • VII НАЦИОНАЛЬНАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии. РСНЭ – НБИК 2009 , Москва, Россия, 2009

• Тезисы докладов

  • • 2016 Structural parameters of macroscopically flat lipid multilayers on a silica sol substrates
    • Volkov Yu, Tikhonov A., Kozhevnikov I., Roshchin B., Asadchikov V.
    • в сборнике Book of Abstracts (Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application (SFR-2016)), место издания ИЯФ им. Г.И. Будкера СО РАН Новосибирск, 630090, пр. Академика Лаврентьева, тезисы, с. 26-27
  • • 2009 Получение, исследование и испытание дифракционных решеток металлических нанопроводов на структурированной поверхности монокристаллического лейкосапфира
    • Асадчиков В.Е., Буташин А.В., Васильев А.Б., Волков Ю.О., Денисов А.В., Дерябин А.Н., Каневский В.М., Кожевников И.В., Кривоносов Ю.С., Муслимов А.Э., Рощин Б.С., Семенов В.Б., Тихонов Е.О., Якимчук И.В., Андреев А.В., Ангелуц А.А., Коновко А.А., Прудников И.Р., Сапожников Д.А., Шкуринов А.П., Усенов И.Е., Евдокимов М.Г., Рябов А.Ю., Новоселова Е.Г., Смирнов И.С.
    • в сборнике VII Национальная конференция Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии (РСНЭ-НБИК-2009), место издания Москва, тезисы, с. 121-121