Образование

Соавторы: Anand M., Bahn M., Cornelissen J.H., Kattge J., Atkin O.K., Banerjee A., Butler E., Crane J.D., Datta A., Fazayeli F., Hattingh W.N., Laughlin D.C., Minden V., Niinemets Ü., Penuelas J., Reich P.B., Soudzilovskaia N.A., Wythers K., Онипченко В.Г., Aarssen L.W., Awasthy M., Blonder B., Bonser S.P., Byun C., Cavender-Bares J., Chen M., Chen M., Cornwell W.K., Dalrymple R.L., Dickie J.B., Díaz S., Freschet G.T., Gonzalez-Melo A., Gonzalez-Melo A., Griffiths G., Gutierrez A.G., Hemmings F.A., Hickler T., Hitchcock T.D., Janssen, Janssen S., Keighery M., Kleyer M., Kraft N.J., Kraft N.J., Kramer K., Kurokawa H., Laffan S.W., Leishman M.R., Moles A.T., Niinemets U., Onoda Y., Perkins S.E., Pillar V.D., Pitman A., Sack L., Shiodera S., Siefert A., Sosinski E.E., Swaine E.K., Swenson N.G., Tindall M.L., Warman L., Weiher E., Wright I.J., Zhang H., Zobel M., van_Bodegom P.M., Крамар К.Н., Лиу К. Показать ещё Скрыть