Образование

Соавторы: Kane S.R., De Lee N., Eastman J.D., Fleming S., Guo W.P., Mahadevan S., Malanushenko V., Oravetz D., Sivarani T., Snedden A., Stassun K., van Eyken J.C., Бизяев Д.В., Barnes R., Brewington H., Gary B., Malanushenko E., Pan K., Pepper J., Schneider D.P., Simmons A., Siverd R.J., Wan X., Wisniewski J.P., Zhao B., Chang C.F., Costello E., Crepp J., Eisenstein D.J., Fletcher A., Ford E.B., Ford H., Groot J., Hanna K., Hawley S.L., Hearty F.R., Holtzman J.A., Laws C., Leger F., Long D., Malik M., Niedzielski A., Rohan P., Shelden A., Varosi F., Watters S., Weinberg D.H., West R., Addison B.C., Alton A.K., Andrés J.A., Barkaoui K., Bedding T.R., Benkhaldoun Z., Berlind P., Bieryla A., Blake C.H., Bochanski J.J., Boyd A., Brahm R., Brewinton H., Campbell M., Cesar V., Chomiuk Jessie L.C., Ciardi D., Cohen R.J., Collier C.A., Collins K.A., Collins K.I., Conti D.M., Cornachione M.A., Daassou A., DeWitt C., Dong-Woo Y., Dou L., Dressing C.D., Esquerdo G.A., Evans P., Eygel M.Y., Flahaut J., Freed J., Ghachoui M., Giacalone S., Gonzalez E., HOWDEN M., Hellier C., Hintz E.G., Hobson M.J., Horner J., Horta F.G., Huang T.H., Ito A., James D., Jarrod S., Jenkins J.M., Jensen A.S., Jiancun R., Jiang P., Johnson S., Jones M., Kielkopf J.F., Kim K., Kim M., Krushinskiy V., Laloum D., Latham D.W., Lee B.K., Lee D., Liu H., Liu J., Malanushenko O., Massey B., Maxted P.F., McCrady N., Morehead R.C., Murgas F., Newman P., Noel H., Nogues R.N., Norton A.J., Oellers Y., Okumura Y., Osborn H.P., Owen C.J., Paegert M., Palle E., Plavchan P.P., Pollacco D., Quinn M., RODRIGUEZ M.J., Rabis A., Rees E.C., Ricker G.R., Rodriguez J.A., Sahm F., Schneider G., Schulte J., Seager S., Seager S., Shporer A., Simon A., Skillen I., Srdoc G., TA; E., Thomas H.J., Thygesen K.S., Tinney C.G., Uryson A.V., Vanderburg A., Vanderspek R., William F., Wilson F.J., Winn J.N., Wittenmyer R.A., Wittrock J.M., Wolszczan A., Wright J.E., Xie J., Zhang H., Zhou G., Ziegler C., Zobel E., Айли Е., Белинский А.А., Голигузова М.В., Пайн К.Д., Сафонов Б.С., Соколовский К.В. Показать ещё Скрыть