Образование

Соавторы: Ciardi D., Clark C.A., Collins K.A., Fukui A., Jenkins J.M., Murgas F., Schwarz R., Striegel S., TA; E., Winn J.N., Ziegler C., Страхов И.А., Barkaoui K., Bieryla A., Collins K.I., Everett M., Hartmann J., Horne K., Howell S., Ikuta K., Isogai K., Korth J., Latham D.W., Lester K.V., Lund M., Palle E., Pozuelos F.J., Quinn S.N., Ricker G.R., Seager S., Sefako R., Srdoc G., Timmermans M., Watanabe N., de Leon J.P., Bakos G.Á., Beichman C., Bellaver M., Benkhaldoun Z., Benni P., Bergeron S., Boffin Henri M.J., Boyle A.W., Brau J.J., Briceño C., Béjar Víctor J.S., Calatayud-Borras Y., Carleo I., Charbonneau D., Conti D.M., Crossfield I., Dragomir D., Dressing C.D., Eastman J.D., Ehrhardt J., Enoc G., Esparza-Borges E., Esparza-Borges E., Esparza-Borges E., Essack Z., Evans P., Fedewa J., Forveille T., Fukuda I., Furlan E., Galán D., Gan T., García N.A., Geraldía-González S., Ghachoui M., Giacalone S., Gilbert E.A., Gill H., Gillon M., Gillon M., Gonzalez E., Grupp F., Guerrero N.M., Gössl C., Hara N., Harakawa H., Hayashi Y., Hebrard G., Hedges C., Heidari N., Hernández L.Á., Higuera J., Hirano T., Hopp U., Hori Y., Horta F.G., Ikoma M., Ishikawa H.T., Ishizuka M., Jehin E., Jehin E., Kagetani T., Karjalainen R., Kawauchi K., Kellermann H., Kiefer F., Kielkopf J.F., Konishi M., Kotani T., Koyama T., Kudo T., Kurokawa T., Kusakabe N., Kuzuhara M., Laza-Ramos A., Littlefield C., Livingston J.H., Luque R., Mann A.W., Matson R.A., Matthews E.C., McCormack M., Michaels E.J., Mireles I., Miyakawa K., Morello G., Mori M., Muñoz T.S., Nielsen L.D., Nine A.C., Nishikwa J., Omiya M., Orell-Miquel J., Painter S., Palle E., Peláez-Torres A., Peterson D., Phillip R., Pippert J., Polanski A.S., Puig-Subirà M., Relles H.M., Ries C., Riffeser A., Rodriguez J.E., Savel A.B., Schlieder J.E., Schmidt M., Schulte J., Schöller L., Seager S., Serizawa T., Serrano B.J., Shporer A., Soares-Furtado M., Sosa-Guillén P., Sousa S.G., Stangret M., Stockdale C., Sullivan H., Sánchez-Benavente M., Takahiro K., Tamura M., Terada Y., Thomas L., Ueda A., Vanderspek R., Vaňko M., Vievard S., Vowell N., Waalkes W.C., Wang G., Watkins C.N., Yee S.W., Zöller R., van Eyken J.C., Белинский А.А., Герасимов И.С., Нго Т.Н., Сафонов Б.С. Показать ещё Скрыть