ИСТИНА

Szczepaniak A.P.

Соавторы: Adams G.S., Adams T., Bar-Yam Z., Bishop J.M., Bodyagin V.A., Brown R.D., Cason N.M., Chung S.U., Cummings J.P., Danyo K., Dorofeev V.A., Dowd J.P., Dzierba A.R. показать полностью..., Eugenio P., Hackenburg R.W., Hayek M., Kachaev I.A., Kostin M.A., Kuhn J.H., Lindenbusch R., Lipaev V.V., Losecco J.M., Manak J.J., Napolitano J., Nozar M., Olchanski C., Ostrovidov A.I., Pedlar T.K., Plinske K.A., Rust D.R., Ryabchikov D.I., Sanjari A.H., Scott E., Seth K.K., Shenhav N., Shephard W.D., Shepherd M.R., Smith A., Sulanke T., Taegar S.A., Teige S., Thompson D., Weygand D.P., White D.B., Willutzki H.J., Witkowski M., Варданян И.Н., Денисов С.П., Ершов А.А., Кодолова О.Л., Коротких В.Л., иванов и.

1 статья

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 44, Scopus: 49

IstinaResearcherID (IRID): 610230

Деятельность стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam

• Статьи в журналах

  • 
    • 2001 Partial wave analysis of the pi(0) pi(0) system produced in pi(-)p charge exchange collisions
    • Gunter J., Dzierba A.R., Lindenbusch R., Plinske K.A., Rust D.R., Scott E., Shepherd M.R., Smith P.T., Sulanke T., Teige S., Szczepaniak A.P., Chung S.U., Danyo K., Hackenburg R.W., Olchanski C., Weygand D.P., Willutzki H.J., Denisov S.P., Dorofeev V.A., Kachaev I.A., Lipaev V.V., Popov A.V., Ryabchikov D.I., Bar-Yam Z., Dowd J.P., Eugenio P., Hayek M., Kern W., King E., Shenhav N., Bodyagin V.A., Kodolova O.L., Korotkikh V.L., Kostin M.A., Ostrovidov A.I., Sarycheva L.I., Sinev N.B., Vardanyan I.N., Yershov A.A., Brown D.S., Pedlar T.K., Seth K.K., Wise J., Zhao D., Adams T., Bishop J.M., Cason N.M., Ivanov E.I., LoSecco J.M., Manak J.J., Sanjari A.H., Shephard W.D., Steinike D.L., Taegar S.A., Thompson D.R., Adams G.S., Cummings J.P., Kuhn J., Napolitano J., Nozar M., Smith J.A., White D.B., Witkowski M.
    • в журнале Physical Review D, издательство American Physical Society (United States), том 64, № 7, с. 072003 DOI