–
Статьи в сборниках
-
- 2008 High immunity to threshold voltage variability in undoped ultra-thin FDSOI MOSFETs and its physical understanding
- Weber O., Faynot O., Andrieu F., Buj-Dufournet C., Allain F., Scheiblin P., Foucher J., Daval N., Lafond D., Tosti L., Brevard L., Rozeau O., Fenouillet-Beranger C., Marin M., Boeuf F., Delprat D., Bourdelle K., Nguyen B.Y., Deleonibus S.
- в сборнике 2008 IEEE International Electron Devices Meeting, место издания IEEE DOI