–
Статьи в журналах
-
- 1998 Spectroscopic ellipsometric characterization of transparent thin film amorphous electronic materials: integrated analysis
- Popov K.V., Tikhonravov A.V., Campmany J., Bertran E., Bosch S., Canillas A.
- в журнале Thin Solid Films, издательство Elsevier Sequoia (Switzerland), том 313, с. 379-383 DOI