ИСТИНА

Деев А.Н.

Соавторы: Валеев Р.Г., Бакиева О.Р., Гай Д.Е., Гильмутдинов Ф.З., Бельтюков А.Н., Романов Э.А., Сурнин Д.В., Kriventsov V.V., Krylov P.N., Гребенников В.И., Мезенцев Н.А., Рац Ю.В., Чукавин А.И. показать полностью..., Gai D.E., Karban O.V., Kriventsov V.V., Mezentsev N.A., Pivovarova O.I., Rutz Y.V., Бабанов Ю.А., Бабанов Ю.А., Ветошкин В.М., Елисеев А.А., Кривенцов В.В., Ломаева С.Ф., Напольский К.С.

15 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 14, Scopus: 7

IstinaResearcherID (IRID): 540507

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2011 EXAFS spectroscopy study of the atomic structure of ZnS nanocomposite thin films
    • Valeev R.G., Beltukov A.N., Gilmutdinov F.Z., Romanov E.A., Deev A.N., Kriventsov V.V., Mezentsev N.A., Chukavin A.I.
    • в журнале Journal of Structural Chemistry, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 52, № Suppl, с. 181-185 DOI
  • 
    • 2011 Исследование атомной структуры тонких пленок ZnS методом EXAFS-спектроскопии
    • Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Гильмутдинов Ф.З., Романов Э.А., Деев А.Н., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А., Чукавин А.И.
    • в журнале Журнал структурной химии, издательство Изд-во СО РАН (Новосибирск), том 52, № Приложение, с. 184-188
  • 
    • 2010 Исследование тонких пленок Ge с аморфно-нанокристаллической структурой методами EXAFS-спектроскопии и АСМ
    • Валеев Р.Г., Пивоварова О.И., Деев А.Н., Сурнин Д.В., Кривенцов В.В., Карбань О.В., Ветошкин В.М.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), № 2, с. 60-65
  • 
    • 2010 Синтез и исследование структуры упорядоченных массивов наноточек ZnSe
    • Валеев Р.Г., Деев А.Н., Романов Э.А., Кривенцов В.В., Бельтюков А.Н., Мезенцев Н.А., Елисеев А.А., Напольский К.С.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), № 8, с. 31-34
  • 
    • 2009 Determination of the parameters of atomic pair correlations in nickel oxide films by the electron energy loss fine structure method
    • Guy D.E., Bakieva O.R., Deev A.N., Gilmutdinov F.Z.
    • в журнале Journal of Structural Chemistry, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 50, № 2, с. 260-267 DOI
  • • 2009 Использование протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов для определения параметров атомных парных корреляций в оксидных пленках никеля
    • Гай Д.Е., Бакиева О.Р., Деев А.Н., Гильмутдинов Ф.З.
    • в журнале Журнал структурной химии, издательство Изд-во СО РАН (Новосибирск), том 50, № 2, с. 275-282
  • • 2009 Определение атомных парных корреляционных функций пленок оксида никеля EELFS-методом
    • Бакиева О.Р., Гай Д.Е., Деев А.Н., Гильмутдинов Ф.З.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), № 5, с. 25-31
  • 
    • 2008 SPECTROSCOPY OF EXTENDED ELECTRON ENERGY LOSS FINE STRUCTURES FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF THE LOCAL ATOMIC STRUCTURE IN ULTRATHIN OXIDE FILMS ON THE SURFACE OF 3d-METALS
    • Gai D.E., Grebennikov V.I., Bakieva O.R., Surnin D.V., Deev A.N.
    • в журнале Journal of Structural Chemistry, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 49, с. S174-S189 DOI
  • 
    • 2008 The use of EELFS spectroscopy for an analysis of the local atomic structure of thin surface layers of 3d-metal-oxygen systems
    • Gai D.E., Zheltysheva O.R., Deev A.N.
    • в журнале Physics of Metals and Metallography, издательство Pleiades Publishing, Inc. (New York, USA), том 105, № 3, с. 254-262 DOI
  • • 2008 Использование EELFS-спектроскопии для анализа локальной атомной структуры тонких поверхностных слоев систем 3d-металл кислород
    • Гай Д.Е., Желтышева О.Р., Деев А.Н.
    • в журнале Физика металлов и металловедение, издательство Российская академия наук (Москва), том 105, № 3, с. 271-280
  • • 2008 Спектроскопия протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов для количественного анализа локальной атомной структуры сверхтонких оксидных пленок на поверхности 3
    • Гай Д.Е., Гребенников В.И., Бакиева О.Р., Сурнин Д.В., Деев А.Н.
    • в журнале Журнал структурной химии, издательство Изд-во СО РАН (Новосибирск), том 49, № 57, с. 174-189
  • 
    • 2007 Local Atomic Structure of Cu(InxGa1 –x)Se2 (x= 0.25, 0.5, and 0.75) Systems for Solar Cells
    • Deev A.N., Valeev R.G., Gil’mutdinov F.Z., Gai D.E.
    • в журнале Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, издательство Pleiades Publishing, Ltd (Road Town, United Kingdom), том 1, № 1, с. 40-43
  • 
    • 2005 Локальная атомная структура одно-, двух- и трехкомпонентных полупроводников с тетраэдрическими межатомными связями по данным EXAFS-спектроскопии
    • Валеев Р.Г., Рац Ю.В., Деев А.Н., Гильмутдинов Ф.З.
    • в журнале Вестник Удмуртского университета. Серия Физика и химия, № 4, с. 171-188
  • 
    • 2001 EXAFS Studies of the Local Atomic Structure of Nanocrystalline GaAs
    • Valeev R.G., Deev A.N., Rutz Yu V., Babanov Yu A., Krylov P.N., Kobziev V.F., Lomaeva S.F.
    • в журнале Semiconductors, издательство Springer (New York), том 35, № 6, с. 627-629
  • 
    • 2000 EXAFS-исследования локальной атомной структуры GaAs в кристаллическом и нанокристаллическом состоянии
    • Валеев Р.Г., Деев А.Н., Рац Ю.В., Бабанов Ю.А., Крылов П.Н.
    • в журнале Конденсированные среды и межфазные границы, том 2, № 3, с. 214-217