De Vos Dirk E.

De Vos Dirk E.

Соавторы: Ahyong S.T., Alan W., Alastair C., Andras C., Arnaud F., Azevedo-Santos V.M., Baker W.J., Barclay M.V., Barna P., Barrett R.L., Benine R.C., Bickerstaff J.R., Breure A.S. показать полностью..., Brothers D.J., Bálint D., CERLETTI P., Campbell D., Ceríaco L.M., Chih-Han C., Copus J.M., Costello M.J., Csaba C., Cédric d.d., Dagmar T., Daneliya M.E., De Cremer G., Dickinson E.C., Dickinson T.A., Dijkstra K.B., Divakaran P., Douglas Y., Dumbacher J.P., Dávid M., Eiserhardt W.L., Emile F., Evenhuis N.L., Fabio d.R., Fernández-Triana J.L., Fordham B.G., Francisco W., Freitas A.V., Frial A., Fritz U., Funk V.A., Gaimari S.D., Garbino G.S., Garraffoni A.R., Grazziotin F.G., Guanyang Z., Guillermo D., Harvey M.S., Hazevoet C.J., Helge R., Heller S.R., Hofkens J., Hong-Zhang Z., Hovenkamp P.H., Hyvonen J., Ilie M., Irmgard K., István C., Jader M., Janssen Kris P.F., Jenő K., Joe A., Jorge S., Juan F.A., Klitgård B.B., Kullander S., Lattke J.E., Leni D., Leonardo L., Lhano M.G., Luksenburg J.A., Mark F., Martens J.A., McDonough M., Michael B., Miguel A., Miranda V.F., Mircea-Dan M., Neely R.K., Nicolas B., Norbert H., Oleas N.H., Parenti L.R., Patrice B., Pavel Š., Penelope G., Pint, Pyle R.L., Péter P., Rabeler R.K., René D., Ricardo M., Roeffaers Maarten B.J., Sarmiento C.E., Soili S., Soowon C., Souza-Dias P.G., Takafumi N., Thierry B., Tobias F., Torbjørn E., Tracy L.A., Urmas K., Valdecasas A.G., Valeria L., Van Loon J., Winston J.E., Xiaodan H., Yeates D.K., Your m.F., Zeehan J., Zhi-Qiang Z., van Heteren A.H., Арчер Д., Кубарев А.В., Павлинов И.Я., Томсон С., Щигель Д.С.

2 статьи

IstinaResearcherID (IRID): 5129443

Деятельность Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam