Образование

Соавторы: De Lee N., Fleming S., Gaudi B.S., Kane S.R., Mahadevan S., Malanushenko V., Oravetz D., Sivarani T., Snedden A., van Eyken J.C., Бизяев Д.В., Barnes R., Brewington H., Eastman J.D., Gary B., Malanushenko E., Pan K., Pepper J., Schneider D.P., Simmons A., Stassun K., Wan X., Wisniewski J.P., Zhao B., Chang C.F., Costello E., Crepp J., Eisenstein D.J., Fletcher A., Ford E.B., Ford H., Groot J., Hanna K., Hawley S.L., Hearty F.R., Holtzman J.A., Laws C., Leger F., Long D., Malik M., Niedzielski A., Rohan P., Shelden A., Siverd R.J., Varosi F., Watters S., Weinberg D.H., Beran P., Bochanski J.J., Brewinton H., Bush A., Cohen R.J., Collier C.A., DeWitt C., Dou L., Heinzel P., Hellier C., Hu X., Jiang P., Kvashnin Y.O., Lee B.K., Lee D., Li H., Liu J., Malanushenko O., Mathieu R., Maxted P.F., Morehead R.C., Nordblad P., Norton A.J., Plunkett S.P., Pollacco D., Ryhänen T., Sanyal B., Schneider G., Seager S., Shafeie S., Shangguan H., Simon A., Skillen I., Stahlberg M., Tellgren R., West R., Wolszczan A., Wu J., Wu S.T., Xie J., Аненхонов О.А., Долле К., Иванов С.А., Купряков Ю.А., Пайн К.Д., Санданов Д.В., Шэнь С. Показать ещё Скрыть