–
Доклады на научных конференциях
-
- 2016 Компьютерный анализ топологии поверхности кремния, имплантированного ионами цинка и окисленного при повышенных температурах (Стендовый)
- Авторы: Соколов В.Н., Разгулина О.В., Привезенцев В.В., Ксенич C.В.
- XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и в рамках Конференции 4-я Школа молодых учёных «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов, г. Москва, Зеленоград, ул. Юности, дом 8 , Россия, 30 мая - 3 июня 2016