Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Moyzykh M.
Moyzykh M.
IstinaResearcherID (IRID): 4698491
–

Статьи в журналах

    • 2016 Customised 2G HTS wire for applications
    • Samoilenkov S., Molodyk A., Lee S., Petrykin V., Kalitka V., Makarevich A., Markelov A., Moyzykh M., Blednov A., Martynova I.
    • в журнале Superconductor Science and Technology, издательство IOP Publishing ([Bristol, UK], England), том 29, с. 024001
    • 2014 Full CVD Reel-To-Reel Process to Obtain Perfectly Oriented Silicon Films on Metal Tapes with Oxide Buffer Layers,
    • Moyzykh M., Samoilenkov S., Amelichev V., Vasiliev A., Pozdnyakov M., Mankevich A., Tschepikov V., Kaul A.
    • в журнале Chemical Vapor Deposition, издательство John Wiley & Sons Ltd. (United Kingdom), том 20, № 10-11-12, с. 356-363 DOI
    • 2013 Effects of Yttrium Oxide Inclusions on the Orientation and Superconducting Properties of YBCO Films
    • Moyzykh M., Boytsova O., Samoilenkov S., Amelichev V., Kaul A., Voloshin I., Lacroix B., Paumier F., Gaboriaud R.
    • в журнале Конденсированные среды и межфазные границы, том 15, № 2, с. 91-98
    • 2013 Large thickness-dependent improvement of crystallographic texture of CVD silicon films on R-sapphire
    • Moyzykh M., Amelichev V., Samoilenkov S., Vasiliev A., Kaul A.
    • в журнале Journal of Crystal Growth, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 383, с. 145-150

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь