ИСТИНА

Тагаченков Александр Михайлович

Соавторы: Рау Э.И., Татаринцев А.А., Купреенко С.Ю., Зенова Е.В., Знаменская И.А., Орликовский Н.А., Панов В.И., Сысоев Н.Н., Уваров А.В., Федянин А.А., Хахалин А.В., Orlikovsky N., Александров А.Ф. показать полностью..., Ануфриев В.С., Булярский С.В., Гостев А.В., Гусева М.Б., Евстафьева Е.Н., Корнеева Ю.В., Корнилова А.А., Коровяков В.В., Лакалин А.В., Павлов А.А., Стрелецкий О.А., Хвостов В.В.

7 статей, 2 книги, 3 доклада на конференциях, 1 тезисы доклада, 1 диссертация

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 3, Scopus: 6

IstinaResearcherID (IRID): 4686486

Деятельность стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam

• Статьи в журналах

  • • 2018 Влияние буферного слоя на формирование катализатора на основе тонкой пленки никеля для синтеза углеродных нанотрубок
    • Булярский С.В., Зенова Е.В., Лакалин А.В., Молоденский М.С., Павлов А.А., Тагаченков А.М., Терентьев А.В.
    • в журнале Журнал технической физики, издательство Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 88, № 12, с. 1873-1879 DOI
  • 
    • 2015 Determination of Thickness of Ultrathin Surface Films in Nanostructures from the Energy Spectra of Reflected Electrons
    • Kupreenko S.Yu, Orlikovskii N.A., Rau E.I., Tagachenkov A.M., Tatarintsev A.A.
    • в журнале Technical Physics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 60, № 10, с. 1515-1518 DOI
  • 
    • 2015 Определение толщин ультратонких поверхностных плёнок в наноструктурах по энергетическим спектрам отражённых электронов
    • Купреенко С.Ю., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Тагаченков А.М., Татаринцев А.А.
    • в журнале Журнал технической физики, издательство Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 85, № 10, с. 101-104
  • • 2014 Характеристики зарядки диэлектрических пленок в зависимости от толщины при электронном облучении
    • Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Тагаченков А.М., Татаринцев А.А.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 78, № 9, с. 1071-1076
  • 
    • 2013 Image Contrast of Impurity Regions of Semiconductor Crystals in Scanning Electron Microscopy
    • Rau E.I., Tagachenkov A.M.
    • в журнале Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, издательство Allerton Press Inc. (United States), том 77, № 8, с. 943-947 DOI
  • • 2013 Контраст изображений примесных областей в полупроводниковых кристаллах в растровом электронном микроскопе
    • Рау Э.И., Тагаченков А.М.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 77, № 8, с. 1041-1046 DOI
  • • 2012 Структурные и эмиссионные свойства аморфного линейно-цепочечного углерода
    • Хвостов В.В., Гусева М.Б., Александров А.Ф., Тагаченков А.М., Стрелецкий О.А.
    • в журнале Краткие сообщения по физике, издательство Физ. ин-т им. П.Н. Лебедева (М.), том 39, № 2, с. 40-49

• Книги

  • • 2011 Специальный практикум по молекулярной физике и квантовой электронике: учебное пособие
    • Знаменская И.А., Панов В.И., Сысоев Н.Н., Тагаченков А.М., Уваров А.В., Федянин А.А., Хахалин А.В.
    • место издания МГУ Москва, ISBN 5-8279-0024-9, 126 с.
  • • 2010 Специальный практикум по молекулярной физике: учебное пособие
    • Ануфриев Ю.В., Волкова Н.Х., ЕгановаЕ М., Дудин А.А., Знаменская И.А., Зенова Е.В., Корнилова А.А., Корнеева Ю.В., Коровяков В.В., Панов В.И., Сысоев Н.Н., Тагаченков А.М., Уваров А.В., Федянин А.А., Хахалин А.В.
    • место издания МГУ Москва, ISBN 5-8279-0024-9, 95 с.

• Доклады на конференциях

  • • 2014 Experimental and computational thickness determination of ultra-thin surface films using backscattered electrons spectra in SEM. (Стендовый)
    • Авторы: Kupreenko S., Orlikovsky N., Tatarintsev A., Tagachenkov A., Rau E.
    • International conference «Micro- and Nanoelectronics - 2014» (ICMNE-2014), Moscow-Zvenigirod, Russia, Россия, 2014
  • • 2012 An improved detection of the locally doped semiconductor regions with the scanning electron microscope (Устный)
    • Авторы: Orlikovsky N.A., Rau E.I., Tagachenkov A.M., Vasyuk I.P.
    • International Conference “Micro- and Nanoelectronics – 2012” (ICMNE-2012) , 1-5 Oct 2012, Zvenigorod, Russia, Россия, 2012
  • • 2012 Диагностика структуры и химического состава перспективных наносистем для задач оборонного комплекса методами электронно-ионной сканирующей микроскопии
    • Авторы: Тагаченков А.М., Хахалин А.В., Васильева Н.В., Киселева Т.Ю., Новакова А.А., Зенова Е.В., Ануфриев Ю.А., Дудин А.А., Еганова Е.М., Дубровинский В.Ю., Герус П.А., Хенкин Л.В., Балуян Т.А., Жолудев С.И., Кривенков М.А.
    • Выставка "Технологии специального назначения", Москва, Россия, 2012

• Тезисы докладов

  • • 2014 Experimental and computational thickness determination of ultra-thin surface films using backscattered electrons spectra in SEM
    • Kupreenko S., Orlikovsky N., Rau E., Tagachenkov A., Tatarintsev A.
    • в сборнике International Conference "Micro- and Nanoelectronics - 2014". Book of abstracts, место издания Moscow-Zvenigorod, Russia, тезисы, с. P1-30-P1-30

• Диссертация

  • • 2010 Исследование электрофизических и морфологических свойств и поверхностных явлений в гетерогенных твердотельных наноразмерных системах
    • Кандидатская диссертация по специальности 01.04.07 - Физика конденсированного состояния (физ.-мат. науки)
    • Автор: Тагаченков Александр Михайлович
    • Научный руководитель: Илюшин А.С., д.ф.-м.н., проф., МГУ имени М.В. Ломоносова
    • Защищена в совете Д 501.002.01 при МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет