Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Polozhentsev K.
Polozhentsev K.
IstinaResearcherID (IRID): 438739
–

Доклады на научных конференциях

    • 2015 Electroreflectance estimation of built-in electric field inhomogeneity in active region of AlGaN/InGaN/GaN light emitting diodes (Стендовый)
    • Авторы: Avakyants L.P., Aslanyan A.E., Bokov P.Y., Chervyakov A.V., Polozhentsev K.Y.
    • 2nd International conference on enhances spectroscopies, Мессина, Италия, 12-15 октября 2015
    • 2014 Evaluation of the Internal Electric Field Inhomogeneities in Multiple InGaN/GaN Quantum Wells Structures Using Electroreflectance Spectroscopy
    • Авторы: Avakyants L., Aslanyan A., Bokov P., Charvyakov A., Polozhentsev K.
    • International Workshop on Nitride Semiconductors IWN2014, Wroclaw, Poland, 24-29 August 2014, Польша, 2014
    • 2014 Electroreflectance from Multiple InGaN/GaN Quantum Wells: Interference Effects
    • Авторы: Avakyants L., Aslanyan A., Bokov P., Chervyakov A., Polozhentsev K.
    • 32 International Conference on Physics of Semiconductors, Austin, Texas, USA, 10-15 August 2014, 2014
    • 2012 Electrooptical effect in electroreflectance spectra of AlGaN/InGaN/GaN LED structures
    • Авторы: Авакянц Л.П., Асланян А.Э., Боков П.Ю., Червяков А.В., Polozhentsev K.
    • International Workshop on Nitride Semiconduc-tors IWN2012, Sapporo, Japan, Япония, 2012

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь