ИСТИНА

Kelm Evgeny A.

Соавторы: Шевельков А.В., Кульбачинский В.А., Кытин В.Г., Оленев А.В., Milovanov R., Сидоров Л.Н., Соколов С.А., DIKAREV E., ZAIKINA J., Абдуллаев Д.А., Быков М.А., Пресняков И.А., Соболев А.В.

6 статей, 3 доклада на конференциях

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 21, Scopus: 20

IstinaResearcherID (IRID): 415716

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2017 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛЕНОК ДИОКСИДА КРЕМНИЯ МЕТОДОМ ЛРСМА В ПРИСУТСТВИИ ТОКОПРОВОДЯЩЕГО ПОКРЫТИЯ ИЗ ВОЛЬФРАМА
    • СОКОЛОВ С.А., СИДОРОВ Л.Н., КЕЛЬМ Е.А., МИЛОВАНОВ Р.А.
    • в журнале Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения, том 17, № 2, с. 349-353
  • 
    • 2016 Non-destructive determination of thickness of the dielectric layers using EDX
    • Sokolov S.A., Kelm E.A., Milovanov R.A., Abdullaev D.A., Sidorov L.N.
    • в журнале Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, издательство SPIE, the International Society for Optical Engineering (Bellingham, WA, United States), том 10224, с. 1022426-1-1022426-6 DOI
  • 
    • 2011 Anomalously low thermal conductivity and thermoelectric properties of new cationic clathrates in the Sn-In-As-I system
    • Shevelkov A.V., Kelm E.A., Olenev A.V., Kulbachinskii V.A., Kytin V.G.
    • в журнале Semiconductors, издательство Springer (New York), том 45, № 11, с. 1399-1403 DOI
  • 
    • 2011 Synthesis, Crystal Structure, and Thermoelectric Properties of Clathrates in the Sn-In-As-I System
    • Kelm Evgeny A., Olenev Andrei V., Bykov Mikhail A., Sobolev Alexey V., Presniakov Igor A., Kulbachinskii Vladimir A., Kytin Vladimir G., Shevelkov Andrei V.
    • в журнале Zeitschrift für anorganische und allgemeine Chemie, издательство Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co. (Germany), том 637, № 13, с. 2059-2067 DOI
  • • 2011 Аномально низкая теплопроводность и термоэлектрические свойства новых катионных клатратов в системе Sn-In-As-I
    • Шевельков А.В., Кельм Е.А., Оленев А.В., Кульбачинский В.А., Кытин В.Г.
    • в журнале Физика и техника полупроводников, издательство Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 45, № 11, с. 1454-1458
  • 
    • 2009 Distribution of phosphorus and arsenic atoms in the solid solution Sn24As (x) P19.3-x I-8 with the structure of clathrate-I
    • Kelm E.A., Zaikina Yu V., Dikarev E.V., Shevelkov A.V.
    • в журнале Russian Chemical Bulletin, издательство Springer Nature (Switzerland), том 58, № 4, с. 746-750 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2017 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛЕНОК ДИОКСИДА КРЕМНИЯ МЕТОДОМ ЛРСМА В ПРИСУТСТВИИ ТОКОПРОВОДЯЩЕГО ПОКРЫТИЯ ИЗ ВОЛЬФРАМА (Устный)
    • Авторы: Соколов С.А., Милованов Р.А., Кельм Е.А., Сидоров Л.Н.
    • МЕЖДУНАРОДНАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «ФУНДАМЕНТАЛЬНЫЕ ПРОБЛЕМЫ РАДИОЭЛЕКТРОННОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ» ( INTERMATIC - 2017 ), Москва, МИРЭА, Россия, 20-24 ноября 2017
  • • 2016 A resistless electron beam litography, based on charge accumulation in dielectric films (Стендовый)
    • Авторы: Kelm E., Zubov D., Sokolov S., Milovanov R., Kazmishchev S.
    • ICMNE-2016, пансионат Ершово, Звенигород, МО, Россия, 3-6 октября 2016
  • • 2016 Non-destructive determination of thickness of the dielectric layers using EDX (Устный)
    • Авторы: Sokolov S., Kelm E., Milovanov R.
    • ICMNE-2016, пансионат Ершово, Звенигород, МО, Россия, 3-6 октября 2016