ИСТИНА

Hou M.

Соавторы: Eckstein W., Benazeth N., Машкова Е.С., Молчанов В.А., Шульга В.И., Benazeth C., Cafarelli P., Brown R.M., Cafarelli P., Che J., Chen H.M., Chen J.M., Jiang K. показать полностью..., Lathrop A., Murphy R.W., Nguyen N.S., Papenffuss T., Shul'ga B.C., Stuart B.L., Suwannapoom C., W-W Z., Wang Y.Y., Yuan Z.Y., Zhang Y.P., Зыонг В.Т., Поярков Н.А., Хуснулина Р.Р.

6 статей

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 102, Scopus: 99

IstinaResearcherID (IRID): 4140345

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2019 АНТРОПОНИМЫ КАК АТРИБУТ ПЕРЕВОДА(НА ПРИМЕРЕ ПЕРЕВОДА «КРОТКОЙ» Ф.М. ДОСТОЕВСКОГО НА АНГЛИЙСКИЙ И КИТАЙСКИЙ ЯЗЫКИ) ж-л перечня ВАК "Казанская Наука",2019, № 3, с.7-10
    • Хуснулина Р.Р., Хоу Мэнвэй
    • в журнале Казанская наука, № 3, с. 7-10 DOI
  • 
    • 2017 Corrigendum to “A novel multilocus phylogenetic estimation reveals unrecognized diversity in Asian horned toads, genus Megophrys sensu lato (Anura: Megophryidae)"
    • Chen J.M., Zhou W.W., Poyarkov N.A., Stuart B.L., Brown R.M., Lathrop A., Wang Y.Y., Yuan Z.Y., Jiang K., Hou M., Chen H.M., Suwannapoom C., Nguyen N.S., Duong V.T., Papenfuss T.J., Murphy R.W., Zhang Y.P., Che J.
    • в журнале Molecular Phylogenetics and Evolution, издательство Academic Press (United States), том 106, с. 28-43 DOI
  • 
    • 1997 Modification of Near-Surface Silicon Layers under Cesium Ion Bombardment
    • Mashkova E.S., Molchanov V.A., Shul'ga Benazeth C., Banazeth N., Cafarelli P., Hou M., Eckstein W.
    • в журнале Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, том 12, с. 973-987
  • 
    • 1997 Modification of near-surface silicon layers under cesium ion bombardment
    • Mashkova E.S., Molchanov V.A., Shulga V.I., Benazeth C., Benazeth N., Cafarelli P., Hou M., Eckstein W.
    • в журнале Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, том 12, с. 973-987
  • 
    • 1996 Interface formation in silicon by cesium bombardment
    • Mashkova E.S., Molchanov V.A., Shulga V.I., Benazeth C., Benazeth N., Cafarelli P., Eckstein W., Hou M.
    • в журнале Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 115, № 1-4, с. 519-522 DOI
  • 
    • 1996 Ion-induced alkali-silicon interfaces: Atomistic simulations of collisional effects
    • Eckstein W., Hou M., Shulga V.I.
    • в журнале Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 119, № 4, с. 477-486 DOI