Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
скрыть
Hakii H.
Соавторы:
Babin S.
,
Nishiyama Y.
,
Yonekura I.
,
Борисов С.С.
2 статьи
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 8, Scopus: 18
IstinaResearcherID (IRID): 3851447
Деятельность
Статьи в сборниках
2012
CD-Metrology of EUV masks in the presence of charging: measurement and simulation
Babin S.
,
Borisov S.
,
Hakii H.
,
Nishiyama Y.
,
Yonekura I.
в сборнике
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
, с. 844108
DOI
2012
CD-Metrology of EUV masks in the presence of charging: measurement and simulation
Babin S.
,
Borisov S.
,
Hakii H.
,
Nishiyama Y.
,
Yonekura I.
в сборнике
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
, с. 844108
DOI