Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Schmidt M.
Schmidt M.
IstinaResearcherID (IRID): 3085704
Статьи в журналах Книги
–

Статьи в журналах

    • 2011 High mobility strained Si0.5Ge0.5/SSOI short channel field effect transistors with TiN/GdScO3 gate stack
    • Minamisawa R.A., Schmidt M., Durgun Özben E., Lopes J.M.J, Hartmann J.M., Bourdelle K.K., Schubert J., Zhao Q.T., Buca D., Mantl S.
    • в журнале Microelectronic Engineering, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 88, № 9, с. 2955-2958 DOI

Книги

    • 2012 Nonthermal Plasmas Chemistry and Physics
    • Becker K.H., Brandenburg R., Bronold F.X., Davies P.B., Dinklage A., Dittmann K., Ehlbeck J., Fehske H., Foest R., Hannemann M., Hartfuss H.J., Hippler R., Kersten H., Kozlov K.V., Lavrov B.P., Loeffhagen D., Meichsner J., mueller S., Ohl A., Rai A., Roepcke J., Rousseau A., Schmidt M., Schneider R., Schroeder K., Steffen H., Uhrfandt D., Keudell A., Woedtke Tth, Wagner H.E., Weltmann K.D., Wulff H., Zahn R.J.
    • место издания CRC-Press Boca Raton-London-New York, ISBN 978-1-4200-5916-8, 548 с.
    • 2008 Low Temperature Plasmas - Fundamentals, Technologies and Techniques. Volume 1
    • Rutscher A., Lofhagen D., Sigeneger F., Winkler R., Becker K., Lin C., Hippler R., Kersten H., Keudell A., Melzer A., Goree J., Pfau S., Tichy M., Ropke J., Davies P., Hempel F., Lavrov B., Schmidt M., Foest R., Basner R., Wagner H-E, Kozlov K.V., Brandenburg R., Fukarek W., Wulff H., Steffen H., Conrads H.
    • место издания Wiley-VCH Berlin, ISBN 978-3-527-40673-9, 409 с.

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь