ИСТИНА

Гимельфарб Ф.A.

Соавторы: Проскурнина Е.В., Борзенко А.Г., Филиппов В.М., Филиппов М.Н., Efimov I.P., Luzyanin B.P., Алов Н.В., Киселёв С.М., Ревельский И.А., Харкевич С.И.

11 статей, 3 доклада на конференциях, 6 тезисов докладов, 1 диссертация

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 4, Scopus: 1

IstinaResearcherID (IRID): 2980852

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 1999 Reference Materials for Quantitative Microprobe Analysis
    • Borzenko A.G., Kletskina E.V., Guimelfarb F.A.
    • в журнале Microscopy and Microanalysis, издательство Cambridge University Press (United Kingdom), том 62, с. 6-9
  • • 1998 Applications of Microprobe Mass Spectrometry in Electronic Material Technology
    • Borzenko A.G., Kletskina E.V., Guimelfarb F.A.
    • в журнале Microscopy and Microanalysis, издательство Cambridge University Press (United Kingdom), том 53, с. 9-11
  • • 1997 Electronprobe Microanalysis with Xerogel Films
    • Kletskina E.V., Filippov M.N., Borzenko A.G., Guimelfarb F.A.
    • в журнале Microscopy and Microanalysis, издательство Cambridge University Press (United Kingdom), том 49, с. 5-7
  • 
    • 1997 Molecular Laser Microprobe Mass Spectrometric Analysis with Xerogel Matrices
    • Guimelfarb F.A., Kletskina E.V., Filippov M.N.
    • в журнале Fresenius' journal of analytical chemistry, издательство Springer International (Berlin, Germany), том 357, с. 364-367
  • 
    • 1997 Salt Doping in Electronprobe Microanalysis
    • Guimelfarb F.A., Filippov M.N., Kletskina E.V.
    • в журнале Fresenius' journal of analytical chemistry, издательство Springer International (Berlin, Germany), том 357, с. 796-800
  • • 1996 Микрозондовый анализ с использованием полимерных покрытий
    • Гимельфарб Ф.А., Филиппов M.Н., Клецкина E.В.
    • в журнале Заводская лаборатория. Диагностика материалов, издательство ТЕСТ-ЗЛ (М.), № 4, с. 25-28
  • 
    • 1995 Электроннозондовый микроанализ с использованием агаровых покрытий
    • Гимельфарб Ф.A., Клецкина E.В., Филиппов M.Н., Алимова A.Н., Суслов С.Г.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 59, № 2, с. 64-69
  • 
    • 1993 Электроннозондовый анализ замороженных жидкостей и суспензий
    • Гимельфарб Ф.A., Филиппов M.Н., Клецкина E.В.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 57, № 8, с. 172-175
  • • 1991 Ионный синтез стандартных образцов состава для анализа поверхности
    • Алов Н.В., Гимельфарб Ф.А., Харкевич С.И.
    • в журнале Заводская лаборатория. Диагностика материалов, издательство ТЕСТ-ЗЛ (М.), том 57, № 4, с. 32-36

• Статьи в сборниках

  • • 2003 Методы определения платиновых металлов: Другие методы определения
    • Рамендик Г.И., Сапрыкин А.И., Гимельфарб Ф.А., Проскурнина Е.В.
    • в сборнике Аналитическая химия металлов платиновой группы, место издания Едиториал УРСС Москва, с. 501-519
  • • 1990 Методы локального анализа и анализа поверхности в микроэлектронике
    • Борзенко А.Г., Гимельфарб Ф.А., Меньшиков О.Д., Харкевич С.И.
    • в сборнике В кн. "Физико-химические процессы в микроэлектронике, место издания Москва, с. 262-277

• Доклады на конференциях

  • • 1997 Analysis of heavy metals on ppt – ppq level in water using LMMS coupled to HPTLC (Стендовый)
    • Авторы: Борзенко А.Г., Киселёв С.М., Проскурнина Е.В., Luzyanin B.P., Efimov I.P., Гимельфарб Ф.A., Ревельский И.А.
    • InCom’97 International Symposium on Instrumentalized Analytical Chemistry and Computer Technology, Dusseldorf, 1997
  • • 1996 Laser Microprobe Mass Spectrometry Analysis with Xerogel Matrices (Устный)
    • Авторы: Guimelfarb F.A., Kletskina E.V.
    • InCom’96 International Symposium on Instrumentalized Analytical Chemistry and Computer Technology, Dusseldorf, 1996
  • • 1994 Drop-microprobe identification of microinclusions in surface layers of semiconductor supports for SBIS (Стендовый)
    • Авторы: Kletskina E.V., Guimelfarb F.A., Borzenko A.G., Alimova A.N.
    • Microelectronics’94, Звенигород, Россия, 1-4 декабря 1994

• Тезисы докладов

  • • 1998 Microprobe analysis using soft X-ray radiation
    • Filippov M.N., Kletskina E.V., Guimelfarb F.A., Borzenko A.G.
    • в сборнике Abstracts of Papers, 15 International Congress on X-ray Optics and Microanalysis, ICXOM, место издания Antwerp (Belgium), тезисы
  • • 1997 Analysis of heavy Metals on p.p.t.-p.p.q. Level in Water Using LMMS Coupled to HPTLC
    • Borzenko A.G., Kiselev S.M., Kletskina E.V., Revelsky I.A., Efimov I.P., Guimelfarb F.A., Luzianin B.P.
    • в сборнике Abstracts of Papers, International Symposium on Instrumentalized Analytical Chemistry and Computer Technology (InCom’97), место издания Duesseldorf, Germany, тезисы, с. 400-400
  • • 1997 Microprobe Analysis with Xerogel Matrices
    • Kletskina E.V., Guimelfarb F.A., Filippov M.N.
    • в сборнике Abstracts of Papers, International Congress on Analytical Chemistry (ICAC’97), место издания Moscow, том 1, тезисы, с. L-60
  • • 1997 X-ray Electronprobe Microanalysis of Dielectric Specimens
    • Kletskina E.V., Guimelfarb F.A., Filippov M.N.
    • в сборнике Abstracts of Papers, International Congress on Analytical Chemistry (ICAC’97), место издания Moscow, том 1, тезисы, с. L-59-L-59
  • • 1996 Laser Microprobe Mass Spectrometry Analysis with Xerogel Matrices
    • Kletskina E.V., Guimelfarb F.A.
    • в сборнике Abstracts of Papers, International Symposium on Instrumentalized Analytical Chemistry and Computer Technology (InCom’96), место издания Duesseldorf, Germany, тезисы, с. 478-478
  • • 1994 Drop-microprobe identification of microinclusions in surface layers of semiconductor supports for SBIS
    • Kletskina E.V., Alimova A.N., Borzenko A.G., Guimelfarb F.A.
    • в сборнике Abstracts of Papers, Microelectronics’94, место издания Zvenigorod (Russia), тезисы, с. 521-522

• Руководство диссертациями

  • • 1995 Микрозондовый анализ в гелевых средах
    • Кандидатская диссертация по специальности 020100 (хим. науки)
    • Автор: Проскурнина Елена Васильевна, д.м.н., доц., МГУ имени М.В. Ломоносова
    • Научные руководители: Гимельфарб Ф.A., Филиппов М.Н.
    • Защищена в совете Д 501.001.88 при МГУ имени М.В. Ломоносова, Химический факультет