Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Shiko A.S.
Shiko A.S.
IstinaResearcherID (IRID): 238298850
–

Статьи в журналах

    • 2020 Effects of 5 MeV electron irradiation on deep traps and electroluminescence from near-UV InGaN/GaN single quantum well light-emitting diodes with and without InAlN superlattice underlayer
    • Polyakov A.Y., Haller C., Butté R., Smirnov N.B., Alexanyan L.A., Shikoh Ali Sehpar, Shchemerov Ivan V., Chernykh Sergey V., Lagov P.B., Pavlov Yuri S., Kochkova Anastasia I., Carlin Jean-Francois, Mosca Mauro, Grandjean Nicolas, Pearton Stephen J.
    • в журнале Journal of Physics D - Applied Physics, издательство IOP Publishing ([Bristol, UK], England), том 53, № 44, с. 445111 DOI
    • 2019 Effects of InAlN underlayer on deep traps detected in near-UV InGaN/GaN single quantum well light-emitting diodes
    • Polyakov A.Y., Haller C., Smirnov N.B., Shiko A.S., Shchemerov I.V., Chernykh S.V., Alexanyan L.A., Lagov P.B., Pavlov Yu S., Carlin J.F., Mosca M., Butté R., Grandjean N., Pearton S.J.
    • в журнале Journal of Applied Physics, издательство AIP Publishing (United States), том 126, № 12, с. 125708 DOI

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь