Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Urbassek H.M.
Соавторы:
Baskes M.I.
,
Betz G.
,
Chakarov I.R.
,
Cui F.Z.
,
Eckstein W.
,
Harrison D.E.
,
Hosaka S.
,
Husinsky W.
,
Ishitani T.
,
Karpuzov D.S.
,
Kawatoh E.
,
Nieminen R.M.
,
Robinson M.T.
показать полностью...
,
Shapiro M.H.
,
Shimizu R.
,
Sigmund P.
,
Valkealahti S.
,
Vicanek M.
,
Yamamura Y.
,
Кожанов А.Е.
,
Корсакова О.С.
,
Самойлов В.Н.
,
Шульга В.И.
1 статья
,
1 тезисы доклада
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 81, Scopus: 72
IstinaResearcherID (IRID): 2337276
Деятельность
Статьи в журналах
1989
Round robin computer simulation of ejection probability in sputtering
Sigmund P.
,
Robinson M.T.
,
Baskes M.I.
,
Cui F.Z.
,
Eckstein W.
,
Yamamura Y.
,
Hosaka S.
,
Ishitani T.
,
Shulga V.I.
,
Harrison D.E.
,
Chakarov I.R.
,
Karpuzov D.S.
,
Kawatoh E.
,
Shimizu R.
,
Valkealahti S.
,
Nieminen R.M.
,
Betz G.
,
Husinsky W.
,
Shapiro M.H.
,
Vicanek M.
,
Urbassek H.M.
в журнале
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 36, № 2, с. 110-123
DOI
Тезисы докладов
1998
Two-peak angular-resolved energy distributions of atoms sputtered from (001) Ni: Computer simulation studies
Samoilov V.N.
,
Korsakova O.S.
,
Kozhanov A.E.
,
Urbassek H.M.
в сборнике
Abstracts of 14th Int. Vacuum Congress, 10th Int. Conf. on Solid Surfaces, 5th Int. Conf. on Nanometer-scale Science and Technology and 10th Int. Conf. on Quantitative Surface Analysis, Birmingham, United Kingdom, 31 August - 4 September 1998
, тезисы, с. IVC-00593