ИСТИНА

Кютт Р.Н.

Соавторы: Бушуев В.А., Хапачев Ю.П., Андреева М.А., Дышеков А.А., Карнаухов И.М., Кашкаров П.К., Ковальчук М.В., Лень Е.Г., Лизунов В.В., Лизунова С.В., Молодкин В.Б., Молодкин В.В., Низкова А.И. показать полностью..., Носик В.Л., Ташилов А.С., Шпак А.П., Щеглов М.П.

2 статьи, 1 книга

IstinaResearcherID (IRID): 2238771

Деятельность стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam

• Статьи в журналах

  • • 2011 Физические основы нового поколения диагностики – многопараметрической кристаллографии дефектов в материалах и изделиях нанотехнологий, в частности, в кристаллах кремния
    • Шпак А.П., Ковальчук М.В., Молодкин В.Б., Кашкаров П.К., Бушуев В.А., Хапачев Ю.П., Дышеков А.А., Ташилов А.С., Лизунова С.В., Лизунов В.В., Низкова А.И., Кютт Р.Н., Носик В.Л., Лень Е.Г., Молодкин В.В., Карнаухов И.М.
    • в журнале Актуальные вопросы современного естествознания, № 8
  • • 1989 Влияние поверхностных нарушений на кривые дифракции в скользящей геометрии
    • Щеглов М.П., Андреева М.А., Кютт Р.Н.
    • в журнале Журнал технической физики, издательство Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 59, № 9, с. 134-139

• Книги

  • • 1996 Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок
    • Бушуев В.А., Кютт Р.Н., Хапачев Ю.П.
    • место издания КБГУ Нальчик, 179 с.