|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Ebisu Yoshihiro
Соавторы: Happo N., Hayashi K., Hosokawa S., Kimura K., Matsushita T., Nishioka T., Ozaki T., Tajiri H., Yamamoto Y., Яшина Л.В.
1 статья
IstinaResearcherID (IRID): 146310839
Деятельность
-
Статьи в журналах
-
- 2018 Local structural analysis of In-doped Bi2 Se3 topological insulator using X-ray fluorescence holography
- Kimura Koji, Hayashi Koichi, Yashina Lada V., Happo Naohisa, Nishioka Takumi, Yamamoto Yuta, Ebisu Yoshihiro, Ozaki Toru, Hosokawa Shinya, Matsushita Tomohiro, Tajiri Hiroo
- в журнале Surface and Interface Analysis, издательство John Wiley & Sons Inc. (United States) DOI
-