|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Деятельность
-
Доклады на конференциях
-
- 1994 Drop-microprobe identification of microinclusions in surface layers of semiconductor supports for SBIS (Стендовый)
- Авторы: Kletskina E.V., Alimova A.N., Borzenko A.G., Guimelfarb F.A.
- Microelectronics’94, Звенигород, Россия, 1-4 декабря 1994
-