Образование

Соавторы: Baehrecke E., Baykal A.T., Beuve A., Cexiong F., Changgong W., Chen G., Chi J., Dai E., Eftekharpour E., Gabrilovich D., Galluzzi L., Gewirtz D.A., Hong L., Hülya B., Jain M.R., Jian-Hua Z., Jiang X., Jianyi L., Jones J., Juhasz A., Kampmann M., Kando M., Kim D., Klionsky D., Koopman Werner J.H., Krautwald S., Kroemer G., Labuda D., Laine J., Li Changfeng, Li Q., Linkermann A., Lipinski M., Liu J., Liu T., Luo S., Lünemann J.D., Mandel I., Marino S.M., Michel T., Minghui H., Münz C., Oka S., Parrott A.M., Pellen R., Piacentini M., Qinghua J., RU), Roh J., Rubinsztein D.C., Scheibye-Knudsen M., Scott A.C., Sebastian, Seo Y.T., Shen H., Simmons W.J., Simon H., Sinha D., Toyokuni S., Wei G., Wei L.S., Wen-Xing Y., Xie Y., Xin C., Yu D.Y., Zheyu S., Zhu L., heh h.h., k j.h., zhang d., Боос Е.Г., Гладышев В.Н., Долин С.П., Животовский Б.Д., Жу, Каган В.Е., Кристакис Н., Цао Н., Цветков А.С., Чиан Ч. Показать ещё Скрыть