ИСТИНА

Schick M.

Соавторы: Aronica E., Becker A., Beschorner R., Bewerunge-Hudler M., Bjerkvig R., Boers F., Braczynski A., Capper D., Chavez L., Chocholacs H., Coras R., Cryan J., Deckert M. показать полностью..., Demmers J., Dohmen H., Dunin-Borkowski R.E., Engel N., Ermakov A.B., Faley M.I., Farrell M., Fischer R., Garvalov B., Geisenberger C., Giangaspero F., Haberler C., Harter P., Hench J., Hewer E., Hoppe R., Hovestadt V., Huang K., Hölsken A., Jones D., Koelsche C., Kratz A., Lindenberg K., Lohmann D., Milde T., Olar A., Pages M., Pajtler K.W., Plate K., Preusser M., Rank S., Reuss D., Rodriguez F., Rushing E., Sahm F., Scheurlen W., Schittenhelm J., Schrimpf D., Schweizer U., Selt F., Shah N.J., Shich, Sill M., Slobodchikov V.Y., Staszewski O., Stichel D., Sturm D., Temming P., Varlet P., Wani K., Wefers A., Witt H., Witt O., Кошелец В.П., Масленников Ю.В., Рыжова М.В.

2 статьи

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 969, Scopus: 1028

IstinaResearcherID (IRID): 104263468

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2018 DNA methylation-based classification of central nervous system tumours
    • Capper D., Jones DTW, Sill M., Hovestadt V., Schrimpf D., Sturm D., Koelsche C., Sahm F., Chavez L., Reuss DE, Kratz A., Wefers AK, Huang K., Pajtler KW, Schweizer L., Stichel D., Olar A., Engel NW, Lindenberg K., Harter PN, Braczynski AK, Plate KH, Dohmen H., Garvalov BK, Coras R., Hölsken A., Hewer E., Bewerunge-Hudler M., Schick M., Fischer R., Beschorner R., Schittenhelm J., Staszewski O., Wani K., Varlet P., Pages M., Temming P., Lohmann D., Selt F., Witt H., Milde T., Witt O., Aronica E., Giangaspero F., Rushing E., Scheurlen W., Geisenberger C., Rodriguez FJ, Becker A., Preusser M., Haberler C., Bjerkvig R., Cryan J., Farrell M., Deckert M., Hench J., Frank S., Ryzhova M.
    • в журнале Nature, издательство Nature Publishing Group (United Kingdom), с. 469-474 DOI
  • 
    • 2013 High-T-c DC SQUIDs for Magnetoencephalography
    • Faley M.I., Poppe U., Dunin-Borkowski R.E., Schiek M., Boers F., Chocholacs H., Dammers J., Eich E., Shah N.J., Ermakov A.B., Slobodchikov V.Y., Maslennikov Y.V., Koshelets V.P.
    • в журнале IEEE Transactions on Applied Superconductivity, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States), том 23, № 3, 1, с. 1600705 DOI