ИСТИНА

Объектом исследования являются поля ионизирующих частиц в космических аппаратах. Цель работы – наблюдение за полем ионизирующих излучений в космических аппаратах (наблюдение за «космической погодой в доме») ввиду необходимости уточнения физического обоснования методики оценки срока активного функционирования чувствительных объёмов (SV) микроэлектроники и биологических объектов в полях ионизирующих частиц, образованных космическими лучами. В процессе работы проведены экспериментальные исследования спектров электрического заряда, депонированного в чувствительных объёмах вокселей ПЗС матриц. С использо-ванием теории распознавания образов и современной теории треков выявлялись основные поражающие факторы поля ионизирующих частиц, создаваемого космическими лучами. В результате исследования впервые были измерены спектры электрического заряда, образуемого космическими лучами в вокселях матриц, находящихся на космическом аппарате, расположенном в точке Лагранжа L1. Проведён анализ структуры поля ионизирующих частиц с пространственным разрешением 20 мкм. Проведена идентификация транзиентных событий заряда групп вокселей. Новизной настоящего исследования явилось подтверждение фактов, известных уже сто лет, но до сих пор, не учитываемых в отраслевых руководящих документах. А именно: 1. изменение свойств конденсированной среды, находящейся в поле ионизирующих частиц происходит в треках этих частиц; 2. наибольшие изменение состояния среды происходят в зоне пика Брэгга, то есть естественно ожидать, что пик Брэгга является основным поражающим фактором поля ионизирующих частиц, поскольку именно в этой части трека объёмная плотность мощности (сила осцилляторов, при кваново-механическом анализе) максимальна; 3. В настоящей работе впервые представляется спектр электрического заряда образующегося под воздействием космических лучей в точке Лагранжа L1. Впервые отслежено изменение плотности электрического заряда в пика Брэгга в ходе солнечной вспышки и превышающего уровень критического заряда типичных электронных элементов используемых на отечественных космических аппаратах. Обнаружена ярко выраженная угловая анизотропия потока быстрых частиц в космическом аппарате во время сильных солнечных вспышках. Сформулирован вывод. Для повышения достоверности выработки заключения о пригодности конкретных комплектующих космических приборов для применения в штатных условиях необходимо соотнести частоту отказов с прогнозируемой частотой возникновения заряда, превышающего критический заряд для данного электронного элемента. В первую очередь необходимо оценивать вероятную частоту попадания пика Брэгга в чувствительный объём. Перспектива использования полученных результатов. Эти результаты могут служить основанием для проведения плановых исследований ОКМ НИИЯФ в 2015 г. с целью уточнения физического обоснования методик обеспечения радиационной стойкости космической микроэлектроники и, в дальнейшем, корректировке руководящих документов отрасли. Термины и определения по РД 50-25645.217-90. Ключевые слова : космический мониторинг, поле ионизирующих частиц в космическом аппарате, пик Брэгга, матрица ПЗС, трек.