Место издания:Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова г. Москва
Объём:
24 страниц
Аннотация:В настоящее время для получения качественных научных результатов в физике конденсированного состояния вещества необходима максимально подробная информация о структуре и составе исследуемого материала. Для получения такой информации необходимо знать методы исследования структуры и состава веществ и уметь проводить анализ экспериментальных данных, получаемых этими методами. В семи разделах данного курса представлены основы дифракционных методов исследования структуры кристаллов, методов электронной и зондовой микроскопии, электронного микроанализа, Оже-спектроскопии, фотоэлектронной спектроскопии. Для каждого метода излагаются его теоретические основы, состав и схема необходимой аппаратуры, приводятся примеры первичных экспериментальных данных и даются основы методик их анализа. Изучение курса включает освоение лекционного материала, а также выполнение домашних заданий, включающих задачи и упражнения на применение полученных на лекциях знаний.