|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Методы исследования материалов. Часть 1 - Методы анализа электронной и атомной структуры, субструктуры и морфологии поверхности пленочных гетероструктур и наноструктуркнига
- Авторы: Белоногов Е.К., Домашевская Э.П., Иевлев В.М., Кущев С.Б., Путляев В.И., Кнотько А.В., Гаршев А.В., Тихомиров А.А.
- Год издания: 2005
- Место издания: Воронежский государственный университет Воронеж
- Объём: 181 страниц
- Добавил в систему: Кнотько Александр Валерьевич