Аннотация:Приведены основы теории дифракции рентгеновских лучей на кристаллах.Рассмотрены основы монокристального рентген-дифракционного структурного эксперимента и его использование по определению уточнению структур.Рассмотрены методу решения структур (проблема фаз), включая методы, мало отраженные или совсем не описанные в учебой литературе: метод максимальной энтропии, метод изменения знака заряда (charge flipping).Даны основы описания модулированных и композитных структур на основе 3+d мерной кристаллографии и подходы к определению таких структур.