Рентгено-оптические методы исследования многослойных структур, Часть I. Рефлектометрия изотропных мультиcлоев. Учебное пособие для аспирантов и студентов старших курсов, под ред. проф. А.С. Илюшинакнига
Аннотация:Рентгено-оптические методы исследования структуры вещества получили в последние годы мощный импульс развития благодаря активному использованию синхротронного излучения. Новые подходы в рентгеновской рефлектометрии включают исследования не только обычных угловых зависимостей отражения, но и спектров отражения, измеряемых вблизи краев поглощения или в области энергий резонансных уровней ядер, развиваются разнообразные способы детектирования стоячих рентгеновских волн, активно используется различная поляризации синхротронного излучения и проводятся исследования асимметрии ("дихроизма") спектров и угловых зависимостей по поляризации. Эти синхротронные эксперименты дают уникальную элементно- и пространственно-селективную информацию об электронных и магнитных характеристиках атомов на разной глубине в многослойных пленках, позволяют выявлять характеристики интерфейсов, исследовать неколлинеарные магнитные структуры и т.д. Теория рентгеновской рефлектометрии, с учетом анизотропных и магнитных поправок к амплитуде рентгеновского рассеяния и их спектральных особенностей, в новых условиях существенно усложняется. Экспериментальные результаты современных исследований методом рентгеновской рефлектометрии и основы их теоретического описания последовательно излагаются в нескольких частях данного учебного пособия. Первая часть посвящена рассмотрению базисных эффектов, возникающих в условиях зеркального отражения от многослойных структур, в приближении скалярной восприимчивости слоев.
Учебное пособие рекомендуется для аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела и взаимодействия излучения с веществом.