Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленоккнига

Работа с книгой


[1] Бушуев В. А., Кютт Р. Н., Хапачев Ю. П. Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок. — КБГУ Нальчик, 1996. — 179 с.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть