X-Ray Photoelectron Spectroscopy Applied to Atomic Structure of Silicate Glasses Thin Filmsкнига

Работа с книгой


[1] Kanunnikova O. M. X-Ray Photoelectron Spectroscopy Applied to Atomic Structure of Silicate Glasses Thin Films. — Nova Sience Publisher, 2009.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть