|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Investigations of Porous Silicon with Deposited 3D-Metals by Auger- and Ultrasoft X-Ray Emission Spectroscopyстатья Исследовательская статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 октября 2018 г.
- Авторы: Domashevskaya E.P., Lenshin A.S., Kashkarov V.M., Shabanova I.N., Terebova N.S.
- Журнал: Journal of Nanoscience and Nanotechnology
- Том: 12
- Номер: 2012
- Год издания: 2012
- Издательство: American Scientific Publishers
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 5
- Аннотация: Nanocomposites based on porous silicon (Por-Si) with 3d-metals incorporated into pores can be used as magnetics. Por-Si layers were obtained by anodic etching of n-type silicon (100) with the use of HF solution in alcohol. Fe, Co, Ni galvanic deposition in por-Si was made from aqueous solutions of corresponding sulphates. We have shown by USXES (Ultrasoft X-ray emission spectroscopy), and Auger spectroscopy that Fe covers the surface of porous silicon uniformly but Co penetrates into pores depth. And Ni nanoparticles similar to Co penetrate into pores depth. The obtained Auger profiles of por-Si(Fe), por-Si(Co), por-Si(Ni) nanocomposites shown that its surface layers (to 40 nm) contain up to 10% Fe and no more than 1% Co and Ni, testifying about Co and Ni penetration into silicon pores depth.
- Добавил в систему: Теребова Надежда Семеновна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | 12JNN-6478-E-MRS.pdf | 903,2 КБ | 7 февраля 2018 [TerebovaNS] |