Investigations of Porous Silicon with Deposited 3D-Metals by Auger- and Ultrasoft X-Ray Emission Spectroscopyстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 октября 2018 г.

Работа с статьей


[1] Investigations of porous silicon with deposited 3d-metals by auger- and ultrasoft x-ray emission spectroscopy / E. P. Domashevskaya, A. S. Lenshin, V. M. Kashkarov et al. // Journal of Nanoscience and Nanotechnology. — 2012. — Vol. 12, no. 2012. — P. 1–5.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть