|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Investigations of Porous Silicon with Deposited 3D-Metals by Auger- and Ultrasoft X-Ray Emission Spectroscopyстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 октября 2018 г.
- Авторы: Domashevskaya E.P., Lenshin A.S., Kashkarov V.M., Shabanova I.N., Terebova N.S.
- Журнал: Journal of Nanoscience and Nanotechnology
- Том: 12
- Номер: 2012
- Год издания: 2012
- Издательство: American Scientific Publishers
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 5
- Добавил в систему: Теребова Надежда Семеновна