Оценка пространственной неоднородности гетерограниц в квантовых ямах GaAs/AlGaAs методом спектроскопии фотоотражениястатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 августа 2019 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст p1238-1242.pdf 375,2 КБ 12 мая 2015 [pbokov]

[1] Оценка пространственной неоднородности гетерограниц в квантовых ямах gaas/algaas методом спектроскопии фотоотражения / Л. П. Авакянц, П. Ю. Боков, Г. Б. Галиев и др. // Физика и техника полупроводников. — 2015. — Т. 49, № 9. — С. 1238–1242. Методом спектроскопии фотоотражения исследованы гетероструктуры на основе GaAs/AlGaAs с квантовыми ямами шириной от 20 до 35 нм. Установлено, что параметр уширения спектральных линий, связанных с межзонными переходами, увеличивается с ростом энергии межзонного перехода и уменьшается с увеличением ширины квантовой ямы. Наблюдаемое уменьшение ширины спектральных линий с ростом ширины квантовой ямы связывается с пространственной неоднородностью гетерограниц, которая для исследованных структур составила 0.34-0.39 нм (1.3-1.4 монослоя).

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть