|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Holographic interferometry of thin-walled structure distortion during the stereolithography processтезисы доклада
- Авторы: Bychkov P.S., Saifutdinov I.N.
- Сборник: 6th International conference «Problems of Mathematical Physics and Mathematical Modelling»: Book of abstracts (Moscow, NRNU MEPhI, 25–27 May) / M.B. Kochanov
- Тезисы
- Год издания: 2017
- Место издания: M Moscow
- Первая страница: 118
- Последняя страница: 120