X-ray specular reflection under extremely asymmetric diffraction conditions on crystals with thin amorphous surface film

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

X-ray specular reflection under extremely asymmetric diffraction conditions on crystals with thin amorphous surface filmтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.

Авторы: Bushuev V.A., Oreshko A.P.
Сборник: Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography “XTOP-2000”
Тезисы
Год издания: 2000
Место издания: Ustron-Jaszowiec, Poland
Первая страница: 64
Последняя страница: 64
Добавил в систему: Орешко Алексей Павлович