Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Определение толщины сверхтонких аморфных пленок по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях некомпланарной дифракции
статья
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Имамов Р.М.
,
Мухамеджанов Э.Х.
,
Орешко А.П.
Сборник:
Материалы рабочего совещания «Рентгеновская оптика -2001»
Год издания:
2001
Место издания:
Институт физики микроструктур Нижний Новгород
Первая страница:
92
Последняя страница:
98
Добавил в систему:
Орешко Алексей Павлович