Dependence of exchange bias field on thickness of antiferromagnetic layer in NiFe/IrMn structuresстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 мая 2015 г.

Работа с статьей


[1] Dependence of exchange bias field on thickness of antiferromagnetic layer in nife/irmn structures / I. Dzhun, N. Chechenin, K. Chichay, V. Rodionova // Acta Physica Polonica A. — 2015. — Vol. 127, no. 2. — P. 555–557. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть