Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Resonant diffraction of X-rays as a probe for structural, electronic, and phononic properties
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.
Авторы:
Dmitrienko V.E.
,
Ovchinnikova E.N.
,
Kolchinskaya А.М.
,
Oreshko A.P.
,
Kokubun J.
,
Ishida K.
,
Mukhamedzhanov E.
Сборник:
Abstracts of the conference “Electron Microscopy and Multiscale Materials Modeling"
Тезисы
Год издания:
2007
Место издания:
Moscow
Первая страница:
167
Последняя страница:
167
Добавил в систему:
Овчинникова Елена Николаевна