|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Resonant diffraction of X-rays as a probe for structural, electronic, and phononic propertiesтезисы доклада
- Авторы: Dmitrienko V.E., Ovchinnikova E.N., Kolchinskaya А.М., Oreshko A.P., Kokubun J., Ishida K., Mukhamedzhanov E.
- Сборник: Abstracts of the conference “Electron Microscopy and Multiscale Materials Modeling"
- Тезисы
- Год издания: 2007
- Место издания: Moscow
- Первая страница: 167
- Последняя страница: 167
- Добавил в систему: Овчинникова Елена Николаевна