PROBE RAMAN SPECTROSCOPY IN MONITORING THE ELECTRICAL DEGRADATION OF THIN-FILM CONDUCTORSстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 февраля 2018 г.

Работа с статьей


[1] Kotenev V. A., Tsivadze A. Y. Probe raman spectroscopy in monitoring the electrical degradation of thin-film conductors // Measurement Techniques. — 2012. — Vol. 54, no. 12. — P. 1421–1426. Probe Raman spectroscopy is used for the nondestructive monitoring of the electrical degradation of vacuum-deposited thin-film conductors on an amorphous glass substrate with high spatial resolution.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть