Analytic model of sputtering of two-component amorphous solids and thin films under ion bombardment: account for atomic discreteness of the surface during ejection

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

Analytic model of sputtering of two-component amorphous solids and thin films under ion bombardment: account for atomic discreteness of the surface during ejectionтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.

Автор: Samoilov V.N.
Сборник: Abstracts of 5th International Symposium on Trends and New Applications in Thin Films, Colmar, France, 1-3 April 1996
Тезисы
Год издания: 1996
Место издания: Colmar, France
Первая страница: P76
Последняя страница: P76
Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич