Computer studies of the "surface" mechanism of preferential sputtering of two-component targets for ion beam analysis of surface composition in low dose regime

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

Computer studies of the "surface" mechanism of preferential sputtering of two-component targets for ion beam analysis of surface composition in low dose regimeтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.

Автор: Samoilov V.N.
Сборник: Abstracts of 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '95), Ed.: H.J. Mathieu, Montreux, Switzerland, 9-13 October 1995
Тезисы
Год издания: 1995
Место издания: Montreux, Switzerland
Первая страница: QA-58
Последняя страница: QA-58
Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич