|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
RESPONSE FUNCTION AND OPTIMUM CONFIGURATION OF SEMICONDUCTOR BACKSCATTERED-ELECTRON DETECTORS FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPESстатья
- Авторы: Rau E.I., Ivanova E.S., Orlikovskiy N.A.
- Журнал: Semiconductors
- Том: 46
- Номер: 6
- Год издания: 2012
- Издательство: Springer
- Местоположение издательства: New York
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович