SPATIAL RESOLUTION, INFORMATION DEPTH AND SEM-IMAGE CONTRAST OF SUBSURFACE STRUCTURES OBTAINED IN BACKSCATTERED ELECTRONSстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 30 марта 2018 г.

Работа с статьей


[1] Rau E. I., Savin V. O., Sennov R. A. Spatial resolution, information depth and sem-image contrast of subsurface structures obtained in backscattered electrons // Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. — 2001. — Vol. 16, no. 12. — P. 1823.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть