Computer studies of the 'surface' mechanism of preferential sputtering of two-component solids. Ion beam analysis of surface composition in low dose regime

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

Computer studies of the 'surface' mechanism of preferential sputtering of two-component solids. Ion beam analysis of surface composition in low dose regimeтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.

Авторы: Samoilov V.N., Tatur A.E., Yastrghembsky V.I.
Сборник: Abstracts of 12th International Conference on Ion Beam Analysis, Tempe, Arizona, U.S.A., 22-26 May 1995
Тезисы
Год издания: 1995
Место издания: Tempe, Arizona, U.S.A
Первая страница: FP-06
Последняя страница: FP-06
Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич